Mardi 11 mai 2010
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1er, 2, 3 juin 2010 Salle Bérénice 730 Pavillon 7 niveau 3
(Programme établi le 14 avril 2010 sous réserve de modification)
Dans le cadre du salon CIEN les 1er, 2, 3 juin Palais des Congrès de la Porte de Versailles,
IMAPS organise trois journées de tutoriaux sur les thèmes
suivants :
Mardi 1er juin
Technologies d’Interconnexion et de Packaging
J.M Yannou YOLE Développement
Mercredi 2 juin
HDI Circuits Imprimés
S. Leroux JETWARE
Jeudi 3 juin
Le brasage des composants électroniques
Daniel Muller IFTEC
Pour vous inscrire veuillez aller le plus rapidement possible sur le site suivant
http://www.imapsfrance.org/ link
Par Evaluateur de fiabilité
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Jeudi 15 avril 2010
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IMPORTANT
Nous serons sur le stand IMAPS France au salon du CIEN du 1 au 3 juin 2010.
Venez nous rencontrer.
Nous effectuons aussi des analyses de fiabilité pour des PME et des TPE.
Contacts sur https://www.eurelnet.org
Par Evaluateur de fiabilité
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Publié dans : REUNIONS EURELNET
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Samedi 3 avril 2010
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Le Lundi 17 Mai 2010
Au CNES Toulouse
Débat et présentations sur le sujet suivant :
"Alternatives à la brasure pour les assemblages"
Pour plus de renseignements n'hésitez pas à contacter soit EURELNET (https://www.eurelnet.org)
soit vous connecter sur la page suivante
http://www.cborg.info/WD90AWP/WD90Awp.exe/CONNECT/0000CCT_PROGRAMME9?mode=RCCT9999&langue=5
link
ou à Yves Ousten 05 4000 6547
Cordialement votre.
Merci à tous ceux qui se sont déplacés (31) pour cette réunion CCT MCE au CNES.
Sur le site du CNES CCT vous trouverez les fichiers de la journée Cordialement YO
Par Evaluateur de fiabilité
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Publié dans : REUNIONS EURELNET
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Samedi 19 septembre 2009
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Nous espérons vous voir nombreux du 5 au 9 octobre 2009 sur Arcachon
ESREF est une conférence qui a lieu tous les deux ans en Aquitaine.
C'est une oportunité pour vous de cotoyer des spécialistes mondiaux de la fiabilité.
EURELNET a un stand sur cet événement.
Une newsletter va pouvoir être éditée à partir de ce blog: n'hésitez pas à vous y inscrire!
Par evaluateur
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Publié dans : REUNIONS EURELNET
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